未来材料・システム研究所 附属高度計測技術実践センター

山﨑 順 (ヤマサキ ジュン), 客員准教授, 1973年生


(大阪大学超高圧電子顕微鏡センター 准教授)







2001年4月 名古屋大学大学院工学研究科・助手
2002年4月 名古屋大学理工科学総合研究センター・助手
2004年4月 名古屋大学エコトピア科学研究センター・助手
2005年4月 名古屋大学エコトピア科学研究所・助手(2007年より助教)
2014年4月 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター・准教授 および名古屋大学客員准教授










  1. T. Mitsudome, T. Urayama, K. Yamazaki, Y. Maehara, J. Yamasaki, K. Gohara, Z. Maeno, T. Mizugaki, K. Jitsukawa, K. Kaneda, "Design of Core-Pd/Shell-Ag Nanocomposite Catalyst for Selective Semihydrogenation of Alkynes", ACC Catalysis, 6 (2016) 666-670.
  2. J. Yamasaki, M. Mori, A. Hirata, Y. Hirotsu, and N. Tanaka, “Depth-resolution imaging of crystalline nanoclusters attached on and embedded in amorphous films using aberration-corrected TEM”, Ultramicroscopy, 151 (2015) 224-231.
  3. J. Yamasaki, M. Mutoh, S. Ohta, S. Yuasa, S. Arai, K. Sasaki and N. Tanaka, “Analysis of nonlinear intensity attenuation in bright-field TEM images for correct 3D reconstruction of the density in micron-sized materials”, Microscopy, 63 (2014) 345-355.
  4. K. Yoshida, T. Tominaga, T. Hanatani, A. Tagami, Y. Sasaki, J. Yamasaki, K. Saitoh and N. Tanaka, “Key factors for the dynamic ETEM observation of single atoms”, Microscopy, 62(6) (2013) 571-582.
  5. S.-P. Cho, Y. Nakamura, J. Yamasaki, E. Okunishi, M. Ichikawa and N. Tanaka, “Study of microstructure and interdiffusion behavior of β-FeSi2 flat-islands grown on Si (111) surfaces”, Journal of Applied Crystallography, 46 (2013) 1076-1080.
  6. S. Morishita, J. Yamasaki, and N. Tanaka, “Measurement of spatial coherence of electron beams by using a small selected-area aperture", Ultramicroscopy, 129 (2013) 10-17.
  7. J. Yamasaki, K. Ohta, S. Morishita, and N. Tanaka, “Quantitative phase imaging of electron waves using selected-area diffraction”, Applied Physics Letters, 101 (2012) 234105_1-5.
  8. S. Harada, Alexander, K. Seki, Y. Yamamoto, C. Zhu, Y. Yamamoto, S. Arai, J. Yamasaki, N. Tanaka and T. Ujihara, “Polytype transformation by replication of stacking faults formed by two-dimensional nucleation on spiral steps during SiC solution growth”, Crystal Growth and Design, 12 (2012) 3209-3214.
  9. J. Yamasaki, S. Inamoto, Y. Nomura, H. Tamaki, and N. Tanaka, “Atomic structure analysis of stacking faults and misfit dislocations at 3C-SiC/Si(001) interface by aberration-corrected transmission electron microscopy”, Journal of Physics D: Applied Physics, 45 (2012) 494002_1-8.
  10. S. Inamoto, J. Yamasaki, H. Tamaki, and N. Tanaka, "Atomic arrangement at the 3C-SiC/Si(001) interface revealed utilizing aberration-corrected transmission electron microscope", Philosophical Magazine Letters, 91(9) (2011) 632-639.
  11. Shigeyuki Morishita, Jun Yamasaki, and Nobuo Tanaka, “Estimation of wave fields of incident beams in a transmission electron microscope by using a small selected-area aperture”, Journal of Electron Microscopy, 60(2) (2011) 101-108.
  12. Yong Liu, Chun-Jiang Jia, Jun Yamasaki, Osamu Terasaki, and Ferdi Schuth, “Highly Active Iron Oxide Supported Gold Catalysts for CO Oxidation: How Small Must the Gold Nanoparticles Be?”, Angewandte Chemie International Edition, 49 (2010) 5771-5775.
  13. S. Inamoto, J. Yamasaki, E. Okunishi, K. Kakushima, H. Iwai, and N. Tanaka, “Annealing effects on a high-k lanthanum oxide film on Si (001) analyzed by aberration-corrected transmission electron microscopy/scanning transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy”, Journal of Applied Physics, 107 (2010) 124510_1-10.
  14. P. Krogstrup, J. Yamasaki, C.B. Sorensen, E. Johnson, J.B. Wagner, R. Pennington, M. Aagesen, N. Tanaka, and J. Nygard: Junctions in axial III-V heterostructure nanowires obtained via an interchange of group III elements, Nano Letters, 9(11) (2009) 3689-3693.
  15. J. Yamasaki, T. Kawai, Y. Kondo, and N. Tanaka, “A practical solution for eliminating artificial image contrast in aberration-corrected TEM”, Microscopy and Microanalysis, 14(1) (2008) 27-35.
  16. S. Morishita, J. Yamasaki, K. Nakamura, T. Kato, and N. Tanaka, “Diffractive imaging of the dumbbell structure in silicon by spherical-aberration-corrected electron diffraction”, Applied Physics Letters, 93 (2008) 183103_1-3.
  17. N. Tanaka, S.-P. Cho, A.A. Shklyaev, J. Yamasaki, E. Okunishi and M. Ichikawa, “Spherical aberration corrected STEM studies of Ge nanodots grown on Si(001) surfaces with an ultrathin SiO2 coverage”, Applied Surface Science, 254 (2008) 7569-7572.
  18. K. Hirahara, K. Saitoh, J. Yamasaki, and N. Tanaka, “Direct observation of six-membered rings in the upper and lower walls of a single wall carbon nanotube by spherical aberration-corrected HRTEM”, Nano Letters, 6(8) (2006) 1778 –1783.
  19. K. Yoshida, T. Nanbara, J. Yamasaki and N. Tanaka, “Oxygen release and structural changes in TiO2 films during photocatalytic oxidation”, Journal of Applied Physics, 99(8) (2006) 084908_1-8.
  20. J. Yamasaki, T. Kawai, and N. Tanaka, “A simple method for minimizing non-linear contrast in spherical aberration-corrected HRTEM”, Journal of Electron Microscopy, 54(3) (2005) 209-214.
  21. J. Yamasaki, H. Sawada, and N. Tanaka, “First experiments of selected area nano-diffraction from semiconductor interfaces using a spherical aberration corrected TEM”, Journal of Electron Microscopy, 54(2) (2005) 123-126.
  22. J. Yamasaki, T. Kawai, and N. Tanaka, “Direct observation of a stacking fault in Si1-xGex semiconductors by spherical aberration-corrected TEM and conventional ADF-STEM”, Journal of Electron Microscopy, 53(2) (2004) 129-135.
  23. J. Yamasaki, N. Tanaka, N. Baba, H. Kakibayashi and O. Terasaki, “Three-dimensional Analysis of Platinum Super-Crystals by TEM and HAADF-STEM Observations”, Philosophical Magazine, 84 (2004) 2819-2828.
  24. K. Yoshida, J. Yamasaki and N. Tanaka, “A trial for quantitative TEM-EELS measurement of photocatalysis by TiO2 films”, Nanotechnology 15(6) (2004) S349-354.
  25. N. Tanaka, J. Yamasaki, T. Kawai and H.Y. Pan, “The first observation of carbon nanotubes by spherical aberration corrected high-resolution transmission electron microscopy”, Nanotechnology, 15 (2004) 1779-1784.
  26. K. Yoshida, J. Yamasaki and N. Tanaka, “In-situ high-resolution transmission electron microscopy observation of photodecomposition process of poly-hydrocarbons on catalytic TiO2 films”, Applied Physics Letters, 84(14) (2004) 2542-2544.
  27. H.Y. Pan, A. Ohno, S. Fukami, J. Yamasaki, and N. Tanaka, “Microstructure change of vanadium clusters in ZnO crystalline films by heat-treatment”, Nanotechnology, 15(6) (2004) S420-427.
  28. K. Nishijima, J. Yamasaki, H. Orihara and N. Tanaka, “Development of micro-capsule for electron microscopy and their application to dynamical observation of liquid crystals in TEM”, Nanotechnology, 15 (2004) S329-332.
  29. J. Yamasaki, Y. Ohno, S. Takeda, and Y. Kimura, “Extended vacancy-type defects in silicon induced at low temperatures by electron irradiation”, Philosophical Magazine, 83 (2003) 151-163.
  30. N. Tanaka, J. Yamasaki, S. Fuchi and Y. Takeda, “First Observation of InGaAs Quantum Dots in GaP by Spherical Aberration-corrected HRTEM in comparison with ADF-STEM and Conventional HRTEM”, Microscopy and Microanalysis, 10(1) (2003) 139-145.
  31. H. Pan, S. Fukami, J. Yamasaki, and N. Tanaka, “HRTEM studies of nm-size FePd particles embedded in MgO after annealing over 920 K”, Materials Transactions, 44 (2003) 1-7.
  32. N. Tanaka, J. Yamasaki, K. Usuda, and N. Ikarashi, “First observation of SiO2/Si(100) interfaces by spherical aberration-corrected high-resolution transmission electron microscopy”, Journal of Electron Microscopy, 52 (2003) 69-73.
  33. J. Kikkawa, J. Yamasaki, Y. Ohno, M. Kohyama, and S. Takeda, “Formation of extended defects in polycrystalline SiGe by electron irradiation”, Solid State Phenomena, 93 (2003) 361-366.
  34. N. Tanaka, J. Yamasaki, S. Mitani, and K. Takanashi, “High-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy of nano-granular Co-Al-O alloys”, Scripta Materialia, 48 (2003) 909-914.
  35. J. Yamasaki, and S. Takeda, “Elemental process of amorphization induced by electron irradiation in Si”, Physical Review B, 65 (2002) 115213-22.
  36. J. Yamasaki, Y. Ohno, H. Kohno, N. Ozaki, and S. Takeda, “Novel amorphization process in silicon induced by electron irradiation”, Journal of Non-Crystalline Solids, 299-302 (2002) 793-797.
  37. H. Nakamura, H. Watanabe, J. Yamasaki, N. Tanaka, and R.K. Malhan, “Micro-structural and electrical properties of Al-implanted and lamp-annealed 4H-SiC”, Materials Science Forum, 389-393 (2002) 807.
  38. N. Ozaki, Y. Ohno, M. Tanbara, D. Hamada, J. Yamasaki, and S. Takeda, “Observation of silicon surface nanoholes by scanning tunneling microscopy”, Surface Science, 493 (2001) 547-554.
  39. S. Takeda, J. Yamasaki, and Y. Kimura, “Electron irradiation effects in Si observed at 4.2 to 25K by means of in situ transmission electron microscopy”, Physica B, 273-274 (1999) 476-479.
  40. S. Takeda, and J. Yamasaki, “Amorphization in silicon by electron irradiation”, Physical Review Letters, 83 (1999) 320-323.
  41. S. Takeda, N. Arai, and J. Yamasaki, “Modeling of self-interstitial clusters and their formation mechanism in Si”, Materials Science Forum, 258-263 (1997) 535-540.
  42. T. Nomachi, S. Muto, M. Hirata, H. Kohno, J. Yamasaki, and S. Takeda, “Extended platelets on (111) in GaAs created by He-ion implantation followed by low temperature annealing”, Applied Physics Letters, 71 (1997) 255-257.


  1. 山﨑 順「超高圧電子顕微鏡を用いた電子線透過能の研究とトモグラフィー観察への応用」日本学術振興会・荷電粒子ビームの工業への応用第132委員会 第217回研究会、2015年10月2日、東京理科大学森戸記念館
  2. Jun Yamasaki,“Reconstruction of Atomic Structures and Electric Fields of Nano Materials Using Electron Diffractive Imaging”, International Conference on Electron Microscopy and XXXVI Annual Meeting of the Electron Microscope Society of India (EMSI-2015), 8-10 July 2015, Mumbai, India.(基調講演)
  3. 山﨑 順「収差補正TEMによる深さ分解能結像」 日本顕微鏡学会 超高分解能顕微法分科会 2014年度研究会、2015年2月20日、三浦市 マホロバ・マインズ三浦.
  4. 山﨑 順「超高圧電顕を用いたミクロンサイズ材料の密度定量3次元トモグラフィー」 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター 材料系共同利用研究報告会、2014年12月16日、大阪大学.
  5. Jun Yamasaki, “Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures and Electric Fields in/around Nano Materials “, SANKEN International Symposium, 10-11 December, 2014, Osaka
  6. 山﨑 順「TEMトモグラフィー」 日本顕微鏡学会第58回シンポジウム、2014年11月16,17日、九州大学.
  7. 山﨑 順「非結晶性物質のTEMトモグラフィーにおける密度分布3D再構成の条件」 生理研研究会「次世代の生物電顕を考える」、2014年11月12,13日、岡崎コンファレンスセンター.
  8. Jun Yamasaki, “Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures and Electric Fields of Nano Materials”, The 15th International Union of Materials Research Society – International Conference in Asia (IUMRS-ICA), 24-30 August, 2014, Fukuoka University.
  9. 山﨑 順「電子線の空間コヒーレンス測定と電子線回折イメージング」日本放射光学会第6回若手研究会「コヒーレントX線が拓く構造可視化の新しい世界」、2014年8月21,22日、理研播磨SPring-8
  10. 山﨑 順、森雅幸、平田秋彦、弘津禎彦、田中信夫「制限視野ナノ電子回折を用いたアモルファスMRO構造のサイズ計測法の開発」、日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会、2014年5月11-13日、幕張メッセ
  11. 山﨑 順、武藤道洋、大田繁正、荒井重勇、田中信夫、「TEMトモグラフィーによる正しい内部強度再構成のための透過率条件」、日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会、2014年5月11-13日、幕張メッセ
  12. 山﨑 順、「TEM像強度非線形減衰の解析と三次元密度の再構成」、日本顕微鏡学会 平成25年度「マルチスケールトモグラフィー研究部会」講演会、2014年3月22日、工学院大学
  13. 山﨑 順「電子回折図形に基づくナノイメージング」 日本顕微鏡学会・関西支部「若手の会」設立記念講演会、 2013年12月7,8日、大津市.
  14. 山﨑 順「電子顕微鏡による原子レベル位相観察」 日本顕微鏡学会・様々な極微イメージング技術研究部会「様々な極微イメージング技術」第1回研究会、2013年10月19日、九州大学.
  15. 山﨑 順 「収差補正TEM/電子回折を用いたアモルファス中距離秩序構造の検出とサイズ測定法の開発」 日本材料学会 第24回金属ガラス部門委員会 研究討論、2013年9月6日、大阪大学中之島センター.
  16. 山﨑 順 「収差補正制限視野回折を用いた高分解能電子回折顕微法」日本顕微鏡学会第68回学術講演会、2012年5月14~16日、つくば国際会議場.
  17. 山﨑 順 「電子回折図形からの原子分解能イメージング」日本表面科学会 第73回表面科学研究会、2012年4月20日、東京理科大学.
  18. 山﨑 順、田中信夫 「電子回折顕微法による原子分解能再構成」日本顕微鏡学会 超分解能電子顕微鏡分科会、第7回研究会「回折面上から捉える高分解能像」、2011年11月29日、名古屋.
  19. 山﨑 順 「収差補正高分解能TEMを用いた原子直視観察技法と半導体界面構造解析」日本顕微鏡学会 第54回シンポジウム 2010年11月12日 金沢
  20. J. Yamasaki, A. Hirata , Y. Hirotsu, N. Tanaka, "Imaging and Diffraction Analysis of Medium Range Order Embedded in Amorphous Films by aberration-corrected TEM" The 17th International Microscopy Congress, 19-24 September, 2010, Rio de Janeilo, Brazil.
  21. 山﨑 順 「分解能について」日本顕微鏡学会・電顕技術開発若手研究部会 第二回ワークショップ 2010年8月23日 東京大学
  22. 山﨑 順 「収差補正TEMを用いた精密構造解析」 日本顕微鏡学会・電顕技術開発若手研究部会 第一回ワークショップ 2010年1月23日 JFCC
  23. J. Yamasaki, S. Morishita, and N. Tanaka, 「High-resolution imaging and structure analysis by using aberration-corrected electron diffraction”, The 12th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science (FEMMS 2009) 28 September – 2 October 2009, Huis ten bosch, Nagasaki, Japan.
  24. 山﨑 順「収差補正TEMを用いた制限視野回折顕微法による高分解能イメージング」 日本顕微鏡学会第52回シンポジウム,2008年10月17,18日, 千葉大学
  25. Jun Yamasaki 「Advanced high-resolution imaging and diffraction by using a Cs-corrected TEM」 日本顕微鏡学会第64回学術講演会、2008年5月21日~23日、京都
  26. 山﨑 順、田中信夫 「収差補正TEMにおける高分解能結像と偽像処理法」 日本顕微鏡学会第64回学術講演会、2008年5月21日~23日、京都
  27. 山﨑 順、 「STEMドーパント原子の直接観察」、 平成19年度日本顕微鏡学会関西支部総会および特別講演会、2007年7月31日、岡崎
  28. 山﨑 順,奥西栄治,沢田英敬,田中信夫 「Cs補正ADF-STEM で捉えたSi中ドーパントアンチモンの置換位置移動」 日本顕微鏡学会第63回学術講演会、2007年5月20日~22日、新潟
  29. 山﨑 順,森下茂幸,中村圭介,加藤丈晴,田中信夫 「制限視野ナノ電子回折法を用いた回折顕微法」 日本顕微鏡学会第63回学術講演会、2007年5月20日~22日、新潟
  30. 山﨑 順,趙星彪,平原佳織,齋藤晃,田中信夫, 「収差補正STEM/TEMによる半導体ナノ構造体の研究 ~量子ドット・クラスター・単原子~」, 日本物理学会2007年春季大会・シンポジウム「最新電子顕微鏡を使った物性研究のいぶき」,2007年3月19日.
  31. 山﨑 順,吉田健太,南原孝啓,齋藤晃,田中信夫, 「電子顕微鏡から見た酸化物」, テクノシンポジウム名大「酸化物の科学の新しい展開」,2007年3月7日.
  32. 山﨑 順、田中信夫 「収差補正TEMとSTEMによるナノ観察とナノ回折」、 日本顕微鏡学会第62回学術講演会、2006年5月20日、横浜市大
  33. J. Yamasaki, Y. Nakagaki, S. Fukami and N. Tanaka, "Structural Analyses of Surfaces/Interfaces by Cs-corrected TEM", The 3rd Japan-China Joint Seminar on Atomic Level Characterization", (2006) Xiamen, China, Mar.7-10, Modern Science Instruments.
  34. 山﨑 順、田中信夫 「球面収差補正TEM法による結晶構造及び表面界面の原子構造解析」第15回格子欠陥フォーラム、2005年9月22日~24日、近江舞子
  35. 山﨑 順、河野日出男、津田健治、田中通義、竹田精治 「シリコンにおける粒子線照射による非晶質化のメカニズム」 東北大学金属材料研究所 平成12年度研究会、2000年12月14日
  36. 山﨑 順、竹田精治 「電子線照射によるシリコンの非晶質化とその応用」 九州大学工学研究院 材料工学談話会、2000年4月12日


  1. 発明者:吉田健太、平山司、山本和生、苗蕾、田中信夫、齋藤晃、山崎順
    公開番号:特開2009-070604(日本) 公開日:2009年4月2日
  2. 発明者:吉田健太、平山司、佐々木優吉、田中信夫、齋藤晃、山崎順
    登録番号: 5090134(日本) 登録日:2012年9月21日
    特許権者: 一般財団法人ファインセラミックスセンター